納米氧化鋁（VK-L30JY）雜化聚酰亞胺薄膜的電性能研究

絕緣材料PI薄膜耐電暈時(shí)間由于納米氧化鋁（VK-L30JY）的摻入有很大提高。相同實(shí)驗(yàn)條件下，未摻雜PI薄膜的耐電暈時(shí)間為4．2 h，摻雜氧化鋁23％的PI薄膜（膜厚12um）的耐電暈時(shí)間最低為120.5 h，耐電暈壽命提高30倍以上,

耐電暈性能提高的原因是摻雜了納米氧化鋁（VK-L30JY）后，在PI薄膜中形成了一層由納米氧化物組成的保護(hù)層。納米氧化鋁（VK-L30JY）可能形成了一定網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)，在網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)當(dāng)中存在可以俘獲載流子的陷阱結(jié)構(gòu)，被俘獲的載流子形成了空間電場，使加在薄膜上的電場強(qiáng)度變小，電暈老化延緩。這可從下述現(xiàn)象得到驗(yàn)證：測試時(shí)，加上電壓立即發(fā)生電暈，經(jīng)3～4 h后，電暈放電減弱。且A1一O鍵的斷裂能高于c—c、c—N鍵，具較高熱穩(wěn)定性和抗氧化性，可大幅度提高材料的耐電暈性能。此外，由于納米氧化鋁（VK-L30JY）的體積電阻率小于PI，無機(jī)-A-O-網(wǎng)絡(luò)可均化電暈時(shí)注入材料的空間電荷，減弱局部放電強(qiáng)度 延緩材料老化。

實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，在相同條件下，摻雜氧化鋁23％的PI薄膜的耐電暈時(shí)間比未摻雜PI薄膜提高30倍以上；介電常數(shù)e 較未摻雜PI大；介質(zhì)損耗tand則相差不大；摻雜納米氧化鋁23％ 的PI薄膜中無機(jī)團(tuán)簇分布均勻，尺寸為50～200 nm；