菲希爾XDL X－RAY光譜膜厚儀，是發(fā)展繼承其前身FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B系列，其非破壞式的測量，特別適合五金的金屬鍍層厚度，如一些五金零件、電路板及測量電鍍槽中的金離子的含量。菲希爾XDL X－RAY光譜膜厚儀，采用了高次數(shù)率的比例接收器，可以在沒有標準片的情況下，對金屬五金件的鍍層厚度及電鍍液中的離子含量做出精確的測量，另外在WINFTM BASIC 軟件的支持下，可測量多至24元素，這是其他品牌所不能的。菲希爾XDL X－RAY光譜膜厚儀的長期穩(wěn)定性是十分高的，這使儀器減少校正所需要的時間及次數(shù)，便于管理儀器，并提高生產效率.應用范圍廣泛，包括了測量大量的電鍍五金件、檢查薄膜層（如：裝飾性鉻的鍍層）、在電子及半導體行業(yè)中分析其功能性的鍍層、可用于電路板測量、電鍍槽中的藥水成份分析。有需要的，請聯(lián)系：鄧生：13826519947